同步辐射吸收谱是干什么的

简单来说，同步辐射吸收谱一般用于反应样品中单个元素的价态情况、单个原子的配位环境、单个吸收原子的电子结构（轨道跃迁、杂化），是一种微观的、结构性判断的测试。测试元素一般是金属元素（硬线）或者原子序数较小的非金属元素如C、N、O（软线）。

对于金属元素来说，吸收谱全谱包含XANES（近边吸收结构）和EXAFS（扩展边吸收结构），可以很好的提供价态和配位信息，但是这里所有分析出来的结果，都需要标样数据的对比和支撑，就好比做XPS如何通过结合能位置判断价态，需要通过库或者数据手册来找到标准位置，那么吸收谱的分析没有库的来源，一系列的结果都是基于和标准样品数据的对比来得到的。

对于非金属元素来说，原子序数较小，元素激发后没有足够长的扩展边，数据点不够因此无法对EXAFS进行傅里叶转换和计算，因此这类元素的测试结果只分析XANES，并且没有标样数据，除非自己随样测标样，只能通过文献和资料中峰位归属和偏移来分析化学态的变化。

X射线吸收精细结构（X-ray absorption fine structure，XAFS）也叫做X射线吸收谱（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一种基于同步辐射光源的，研究材料局域原子、电子结构的一种有力的工具。XAFS广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域，主要是基于以下优点：

1、不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；

2、不受其它元素的干扰，可对同一材料中不同的元素分别研究；

3、不受样品状态的影响，可以测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；

4、对样品无破坏，可以进行原位测试；

5、能获得高精度的配位原子的种类、配位数以及原子间距等结构参数，一般认为原子间距的精确度可达0.01 Å；

6、检测下限低，最低可达几个ppm。