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sim卡电路详解,sim卡槽引脚

USIM是Universal Subscriber Identity Module(全球用户识别卡)的缩写。全球用户身份模块(USIM),也叫做升级SIM ,是在UMTS(全称为Universal Mobile TelecommunicatIOn System – 通用无线通信系统) 3G 网络的一个构件。一般也指SIM卡。
USIM卡结构
USIM卡主要由五部分组成。分别为:CPU,程序存储器ROM,工作存储器RAM,数据存储器EEPROM和串行通信单元。
SIM卡存储

USIM是Universal Subscriber Identity Module(全球用户识别卡)的缩写。全球用户身份模块(USIM),也叫做升级SIM ,是在UMTS(全称为Universal Mobile TelecommunicatIOn System – 通用无线通信系统) 3G 网络的一个构件。一般也指SIM卡。

USIM卡结构

USIM卡主要由五部分组成。分别为:CPU,程序存储器ROM,工作存储器RAM,数据存储器EEPROM和串行通信单元。

SIM卡存储

在日常的手机使用时,我们会发现,一些手机号或者短信,通话记录,会跟着手机卡显示在不同的手机里。这也就说明了SIM卡本身存在一定的存储空间。然而不同的SIM卡其容量是不同的,一般为32K,64K以及128K。

SIM卡尺寸

在购买SIM卡时,都知道,其分为三种尺寸。

标准的SIM卡 尺寸15X25mm

Micro SIM卡尺寸15X12mm

Nan0 SIM卡 尺寸12.3X8.8mm

SIM卡电路

SIM卡电路主要分为以下几个部分

VCC:电源,存在1.8V/3V/5V,按照协议,目前常用的为CLASS B 与CLASS C 。其中:CLASS B电压为2.7-3.3V。CLASS C电压为1.62-1.98V。功耗方面 CLASS B最大为6mA。CLASS C 最大为4mA。一般情况下,SIM卡检测电路要求支持1.8V与3.0V。

RST:复位,用于对内部处理器进行复位的。低电平:0-0.2VCC。高电平:0.8VCC-VCC。

CLK:时钟,时钟均在1-4MHZ。低电平:0-0.2VCC。高电平:0.7VCC-VCC。

IO,数据 与手机内部进行信息传输的通信线。低电平:-0.3-0.2VCC。高电平:0.7VCC-VCC 0.3。

VPP,SIM卡的编程供电。一般情况下为NC,在设备具备NFC功能的情况下会使用到该引脚。

DET,检测管脚,低电平拔出,高电平插入。

其中,DET脚并不是SIM卡的引脚信号。其仅存在与连接器卡座上,属于机械引脚,通过机械结构实现插卡与拔卡的状态切换。

SIM卡卡座电路设计

然而在手机平板方面 这块的连接器座子并非如此。大家伙应该都知道,目前的手机卡卡槽方面,不仅支持放单卡,双卡,还可以放SD卡,所以说这方面的座子也是很有讲究的。

(图示仅画出单卡部分,SD卡部分未画)

除了VCC与GND以外,其余信号均直接连接到CPU。

在网上一些电路上,我们或许会看到在信号线上加TVS管,为了防止浪涌击穿。然而在小编从事的手机平板领域,TVS管加的并不多,一方面需要采用低容的TVS可以处理浪涌与静电问题,但另一方面却增加了成本。低容的TVS管价格往往比普通的TVS价格昂贵。同时,据大量项目的经验积累,SIM卡部分大都不加TVS管的情况下,在进行浪涌测试以及静电测试时也能PASS。所以在设计这方面时,如果不确定是否要加,可以先预留TVS管位置,前期先不贴,然后进行浪涌静电测试,视结果来判定最终要不要加!

如果真的执意要加。其实还是要注意一些事项的。

电路中TVS 电容 电阻 选型

电容进行CLK IO线路滤波处理时,容值不能过大。过大不但没有了滤除射频干扰的能力,且会导致信号波形变缓,严重者将导致读卡失败。通常选择33pf电容。

端接电阻阻值不能过大,导致信号驱动能力下降及波形异常,33R电阻使用较多。

在一些防浪涌静电措施中,会加一些TVS管。TVS管选择低容值,容值过大会导致波形变缓,读卡失败。

Layout小结:

将esd保护器件放置在相应引脚附近。如果需要rc筛选器,请将其放置在相应的esd保护器件。

sim卡接口的走线为10CM或更短。

将sim卡信号与其他高速信号隔离开来,包地处理,以防止信号接收高受sim卡影响的速度信号。

SIM卡的走线最好一组一起走。

走线尽可能的走在内层。

电容要靠近SIM卡焊盘放置。

SIM卡中的CLK线务必做包地处理。

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