关于电子钟为什么仃的文章
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亚10纳米节点的时钟老化问题
EETOP编译自semiwiki
半导体芯片在发货前都经过测试，以排除早期故障，但是还有一些更微妙的可靠性影响，这些影响只会在较长时间内出现，比如时钟老化。甚至还有一个经典图表显示了故障率随时间变化的“浴缸曲线”：
IC故障率图
如果磨损区域的现实和期望不一致，那么召回嵌入系统内的芯片所带来的财务影响可能要花费数百万美元，甚至在安全关键应用中要付出人命。
一个 7nm 的 SoC 可以有 100 亿个晶体管，并且为了满足功率规范，有许多时钟域和多电压电源域；导致老化