关于能谱测试为什么会有重叠峰的文章
-
X射线光电能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)的相似和不同之处
一些同学在做XPS和AES测试的时候，可能会对XPS和AES有些不理解的地方，今天铄思百检测直接整理好XPS和AES的相关知识，希望能帮到同学们。
X射线光电能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)
一、概念
1。 X光电子能谱法(XPS)是一种表面分析方法，提供的是样品表面的元素含量与形态，而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。如果利用离子作为剥离手段，利用XPS作为分析方法，则可以实现对样品的深度分析。固体样品中除氢、氦之外的所有元素都可以进行XPS分析。
